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望友Test软件优势:Takaya飞针测试设备快速编程

发布时间:2026-09-11浏览次数:23

在高混合、低产量、快交付成为PCBA制造常态的今天,飞针测试(Flying Probe Test, FPT)凭借免治具、快速换线的天然优势,成为研发样机、小批量试产与返修验证环节的主力测试手段。然而,飞针测试程序的开发质量与效率,直接决定了设备价值的发挥程度。本文将系统介绍望友VayoPro-Test Expert(望友TEST软件)如何帮助测试工程师实现Takaya飞针测试设备的快速编程,以及它在15项关键能力上相对于同类工具的差异。

Takaya APT系列飞针测试设备

一、为什么Takaya飞针测试设备需要专业编程软件

Takaya(TAKAYA Corporation,日本)是全球飞针测试设备的标杆厂商,其APT系列以精密探针接触能力著称:定位重复精度可达±25μm,最小可测焊盘50μm、最小焊盘间距150μm,高速机型单步测试时间最快可达0.02~0.03秒,从原型到量产均可覆盖。凭借免治具、0.15mm间距探针能力与极高的测试覆盖率,Takaya飞针测试设备广泛应用于半导体设备、通信与服务器、汽车电子、医疗、航空航太以及消费电子等行业。

但设备能力越强,对测试程序的要求也越高。一份优秀的Takaya飞针程序需要:完整的网络与器件测试步骤、准确的元件值与公差、合理的测试点选择,以及针对IC、BGA、继电器、三极管等不同器件类型的专项测试策略。传统手工编程高度依赖工程师经验,BOM整理、测试点选择、步骤编写与现场调试动辄数天。这正是望友Test软件要解决的问题——把设计数据(CAD/Gerber)、BOM与测试工艺知识数字化,一键生成可用的Takaya飞针测试程序。

二、望友Test软件与Takaya设备的协同工作流

望友VayoPro-Test Expert是望友科技面向NPI测试工程环节的核心软件,覆盖DFT可测试性分析、测试策略分析与ICT/FPT/AXI/AOI编程。对于Takaya飞针编程场景,其工作流为:

CAD智能识别与导入:支持Accel、Cadence Allegro、ODB++、IPC-2581、Mentor Neutral、Altium、PADS等26种以上主流CAD格式,智能识别无需人工转换;

BOM校验与导入:自动比对BOM与CAD差异(缺件、重复料号、位号不匹配等),并从BOM描述中智能抓取元件值(Val)与公差(Tol);

智能拼板与测试点选择:灵活的探针/测试点规则,支持Gerber阻焊层校验测试点可达性,自动识别并禁用背钻位置;

DFT/可测试性报告与测试策略分析:13大类报告输出,评估ICT/AXI/AOI等不同测试方式对开路、短路、缺件、极性反等缺陷的覆盖率;

一键生成Takaya飞针程序:输出CA8与CA9双格式程序,直接上机调试。

望友Test软件界面:Takaya飞针编程

望友软件Takaya飞针程序开发分步流程图

三、望友TEST软件在Takaya飞针编程上的15项能力对比

下表汇总了望友VayoPro-Test Expert相对于同类工具在Takaya飞针编程场景下的功能对比(Y=支持,N=不具备):

# 功能与特性 望友 Vayo 其他工具
1 分步操作流程图引导 Y N
2 可开发Takaya CA8与CA9两种程序 Y Y
3 支持最新机型APT-1400与APT-1600 Y N
4 一键从BOM描述提取R/L/C值 Y N
5 IC引脚对引脚(开路)与引脚对地(二极管)测试 Y Y
6 基于传感器的IC引脚开路测试 Y N
7 低阻值电阻Kelvin(开尔文)测试 Y N
8 继电器通断(on/off)测试 Y N
9 BGA引脚对引脚(pin-around)测试 Y N
10 三极管常规与数字三极管测试 Y N
11 网络(Net)开路测试 Y N
12 电源/地网络对网络短路测试 Y N
13 依据原理图引脚映射测试器件,支持自定义器件引脚映射 Y N
14 支持ABPT(珠状探针)作为测试点 Y N
15 自动识别并禁用背钻 Y N

其中15项能力里有13项为望友独有或领先,覆盖了从数据准备、测试点选择到器件级测试策略的完整链路。下面挑选最具代表性的几项展开说明。

四、关键功能详解

4.1 支持CA8与CA9双格式,率先支持最新机型

望友软件可同时生成Takaya CA8与CA9两种格式的飞针测试程序,并提供Takaya专用测试点模型与Teaching模型。CA9作为新一代格式,能显著提高测试覆盖率、缩短程序调试时间;同时望友率先支持APT-1400与APT-1600等最新机型,设备升级无后顾之忧。

望友软件Takaya CA9程序开发流程

Takaya CA8格式程序输出示例

4.2 一键从BOM描述提取R/L/C元件值

飞针程序需要每个阻容感器件的准确值与公差。望友软件可一键从BOM描述中提取R/L/C值(如"4.7uH ±20%"、"10K 1%"),自动填充到测试步骤中,避免人工逐条比对录入,大幅减少BOM整理与上机调试时间。

望友软件一键提取BOM中的R/L/C元件值

望友软件一键提取BOM中的R/L/C元件值

一键提取BOM描述中的阻容感值与公差

4.3 IC引脚测试:pin-to-pin、pin-to-ground与传感器开路测试

IC器件是飞针测试的重点与难点。望友软件可自动生成完整的IC引脚对引脚(开路)与引脚对地(二极管)测试步骤;对于SOIC/QFP器件,还可自动生成Takaya设备特有的基于传感器的引脚开路测试(IC open test with sensor)程序,显著提升IC引脚开路缺陷的检出率。

4.4 低阻值电阻Kelvin测试与继电器通断测试

毫欧级低阻电阻必须采用四线制Kelvin测量,望友软件可自动生成Kelvin测试程序;针对继电器类器件,可自动生成通断(on/off)测试程序,验证线圈驱动与触点状态。

Takaya飞针测试继电器通断测试

4.5 BGA、三极管与网络级专项测试

望友软件可生成BGA引脚阵列的针脚间短路测试(pin-around),在返修/调试场景下尤其实用;三极管除常规b-e、b-c二极管测试外,还支持数字三极管测试;此外支持网络开路测试(快速定位PCBA返修后的开路失效点)与电源/地网络对网络短路测试——设备可配置在上电测试之初先测电源地开短路,一旦失败立即暂停,避免对故障板做无意义的全流程测试。

4.6 按原理图引脚映射测试,支持自定义

望友软件按照原理图器件引脚映射(schematic pin map)生成器件测试,而非简单按位号猜测试,可提升器件测试的准确性并缩短调试时间;器件引脚映射支持用户自定义维护。

按原理图引脚映射生成测试步骤,器件类型分配可自定义

4.7 ABPT珠状探针与背钻自动规避

望友软件可自动识别ABPT(Agilent Bead Probe Technology,珠状探针)测试点并用于飞针/ICT测试,有效提升测试覆盖率;同时针对背板与通信产品普遍存在的背钻(back drill)结构,提供智能规则自动识别并禁用背钻位置作为测试点,减少测试工程师的手工排查工作量。

ABPT珠状探针测试点
背钻(Back Drill)自动识别与禁用:背钻孔不适合作为ICT/飞针测试点

五、客户价值:更快的编程,更短的NPI周期

"从多年DFT与测试软件的使用经验来看,VayoPro-Test Expert是最好的。它快速、准确、易用,DFT报告对客户来说非常易懂。"——某客户测试开发经理

综合客户实践,采用望友VayoPro-Test Expert开发Takaya飞针测试程序可获得:

BOM整理与程序调试时间减少70%以上:一键提取元件值、自动生成器件测试步骤;

测试策略分析从"数天"缩短到10~30分钟:快速评估不同测试方式的缺陷覆盖率;

降低对资深测试工程师的依赖:分步流程图引导,新手也能顺畅完成编程;

更高的测试覆盖率:CA9格式、ABPT珠状探针、传感器开路测试等专项能力;

更少的无效上机调试:电源/地优先测试、背钻自动规避、原理图引脚映射。

望友科技深耕智能NPI软件20余年,拥有自主知识产权的软件产品与著作权超过25项、已获授权专利56项,软件装机覆盖全球20多个国家与地区的500多家客户、2500多套装机量,并与ASM、Fuji、Panasonic、Keysight、ViTrox、Cogiscan等领先设备与系统厂商建立战略合作。

六、常见问题(FAQ)

Q1:望友软件支持哪些Takaya飞针测试机型?

支持Takaya APT-8400、9400、9600、1400、1600、2400、2600全系列,并率先支持最新机型APT-1400与APT-1600。

Q2:Takaya CA8与CA9格式有什么区别?

CA9是Takaya新一代程序格式,可显著提升测试覆盖率并缩短程序调试时间。望友软件可同时生成CA8与CA9两种格式的飞针测试程序。

Q3:使用望友软件开发Takaya飞针程序能节省多少时间?

通过一键提取BOM阻容感值、自动生成各类器件测试步骤与分步流程图引导,客户可将BOM整理与程序调试时间减少70%以上,整体测试工程周期缩短超过70%。

了解更多:如需了解望友Test软件与Takaya飞针测试设备快速编程方案详情,可点击下方/立即咨询,获取专属解决方案与演示。

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